美国工程院院士、国际知名统计学家、美国乔治亚理工大学教授吴建福做客williamhill海外名师讲堂

        williamhill新闻网5月31日电 5月29日下午，美国工程院院士、国际知名统计学家、美国乔治亚理工学院工业与系统工程系Coca Cola讲座教授吴建福（C.F. Jeff Wu）做客williamhill官网海外名师讲堂第132讲，在理学院报告厅做题为《质量改进：从汽车和芯片到纳米和生物》（Quality Improvement: From Autos and Chips to Nano and Bio）的主题报告。工业工程系系主任郑力主持学术报告。

图为吴建福做客williamhill官网海外名师讲堂。

　　报告中，吴建福从“统计质量控制(SQC)之父”休哈特(Shewhart)在统计过程控制方向开创性的工作，到世界著名的质量管理专家戴明(Deming)在质量管理领域影响深远的成就，指出质量改进有着辉煌的历史。在这些工作和成就中，统计概念和工具扮演着至关重要的角色。

　　吴建福表示，随着工程应用变得日趋复杂，我们也同样需要更复杂的统计工具来解决这些实际问题。在过去的三十年间，越来越多的试验设计与分析方法，特别是稳健参数设计，被用于质量改进的实践。

　　吴建福在报告中回顾了稳健参数设计的主要思想，特别是这些思想的工程来源及统计理论。然后，他讨论了在现有方法基础上扩展获得的新的成果，包括对反馈控制及操作窗口的使用。吴建福说，为了获得更有效的解决方案，我们通常需要结合专业领域的知识。吴建福报告中展示了数据和知识融合的技术。他说，在先进制造和高技术应用中，种类多、数量小及附加值高的特点将形成新的挑战和促成可能的研究模式的转变。结合来自传统制造（汽车、芯片）和现代制造（纳米、生物）的各种真实案例，吴建福对一些新的方向和技术发展趋势进行了预测。

　　演讲结束后，现场学生就关心的质量改进的相关问题和吴建福进行了交流。国际处副处长李宇红为吴建福颁发了海外名师讲堂奖牌。

供稿：国际处 工业工程系 编辑：范丽